অগ্রগতিশীল নমনীয়তার সাথে ZEISS Xradia 510 Versa 3D সাবমাইক্রোন ইমেজিং সিস্টেম

এই এক্স-রে মাইক্রোস্কোপ দিয়ে 1 মাইক্রোন রেজোলিউশনের বাধা ভেঙে 3D ইমেজিং এবং in situ / 4D গবেষণা করুন।

নমনীয় কাজের দূরত্বের সাথে রেজোলিউশন এবং বিপরীতের সংমিশ্রণ পরীক্ষাগারে অ-ধ্বংসকারী ইমেজিং ক্ষমতা সম্প্রসারিত করতে প

দুই স্তরের বৃদ্ধি প্রযুক্তি ব্যবহার করে তার কাঠামোর জন্য ধন্যবাদ, দূর দূরত্ব (RaaD) উপ-মাইক্রোমিটার রেজোলিউশন অর জ্যামিতিগত বৃদ্ধি হারের উপর নির্ভরশীলতা হ্রাস করুন এবং এমনকি বড় কাজের দূরত্বেও উপ-মাইক্রোন রেজোলিউশন বজায় র

এমনকি আলোর উৎস থেকে বড় কাজের দূরত্বের ক্ষেত্রেও (মিমি এম থেকে সেন্টিমিটার পর্যন্ত), বহুমুখীতা উপভোগ করা যায়।

উন্নত শোষণ ক্ষমতা এবং উদ্ভাবনী লাইনিংয়ের মাধ্যমে নরম বা কম Z উপাদানের 3D ইমেজিং

প্রজেক্টিভ মাইক্রো সিটি সীমাবদ্ধতার বাইরে নমনীয় কাজের দূরত্বে বিশ্বের শীর্ষস্থানীয় রেজোলি

বিভিন্ন নমুনা পরিমাণ মানিয়ে নিতে উপ-মাইক্রোন স্কেল বৈশিষ্ট্য সমাধান

In situ / 4D সমাধান ব্যবহার করে পরীক্ষাগারের ক্ষতিহীন ইমেজিং সম্প্রসারিত করুন

সময়ের সাথে সাথে স্থানীয় অনুরূপ পরিবেশে তদন্ত উপাদান

চিত্রের মানের থ্রুপুট

　　ZEISS উন্নত পুনর্নির্মাণ টুলবক্সউন্নত চিত্র মান, উচ্চ থ্রুপুট

অ্যাডভান্স পুনর্নির্মাণ টুলবক্স একটি উদ্ভাবনী প্ল্যাটফর্ম যা ZEISS Xradia 3D X-ray মাইক্রোস্কোপে উন্নত পুনর্নির্মাণ প অনন্য মডিউলগুলি এক্স-রে পদার্থবিজ্ঞানের নীতি এবং গ্রাহকের অ্যাপ্লিকেশনের গভীর বোঝার সুবিধা নিয়ে সবচেয়ে কঠিন ইমেজিং

এক্স-রে মাইক্রোপ্রযুক্তির সর্বশেষ প্রযুক্তিগত অগ্রগতি সম্পর্কে আপনি এখানে তথ্য পেতে পারেন:

"উন্নত পুনর্নির্মাণ টুলবক্স" ব্যবহার করে আপনি করতে পারেন:

সঠিক এবং দ্রুত সিদ্ধান্ত গ্রহণের জন্য তথ্য সংগ্রহ এবং বিশ্লেষণ উন্নত করা

চিত্রের মান ব্যাপকভাবে উন্নত

একাধিক নমুনায় চমৎকার অভ্যন্তরীণ স্তরীয় ইমেজিং বা প্রবাহ

বিপরীত উন্নত করে সূক্ষ্মতা প্রকাশ করুন

নমুনা শ্রেণীর জন্য যা পুনরাবৃত্তি ওয়ার্কফ্লো প্রয়োজন, গতি একটি পরিমাণের শ্রেণী বৃদ্ধি

　　পুনর্নির্মাণের জন্য এআই ব্যবহার করে সুপার চার্জিং 3D এক্স-রে ইমেজিং

এক্স-রে মাইক্রোস্কোপ প্রয়োগ করার সময় একাডেমিক এবং শিল্প সমস্যাগুলির সমাধানে প্রধান চ্যালেঞ্জগুলির মধ্যে একটি হল ইম উচ্চ রেজোলিউশনের 3D এক্স-রে মাইক্রোফটোগ্রাফির সংগ্রহের সময় কয়েক ঘন্টার পরিমাণের স্তরে থাকতে পারে, যখন সস্তা, কম পারফরম্যান্সের বিশ্লেষণ প্রযুক্তি ব্যবহার করে উচ্চ নির্ভুলত

এই সমস্যা সমাধানের জন্য, এই মাইক্রোস্কোপ থেকে অপারেটেবল তথ্য তৈরি করার প্রতিটি ধাপ অপ্টিমাইজ করা প্রয়োজন 3D এক্স-রে টমোগ্রাফির জন্য, এই পদক্ষেপগুলিতে সাধারণত নমুনা ইনস্টলেশন, স্ক্যানিং সেটিং, 2D প্রজেক্শন ইমেজ সংগ্রহ, 2D থেকে 3D ইমেজ পুনর্নির্মাণ, ইমে

　　ZEISS DeepRecon নমুনা পুনরাবৃত্তি করে ১০ গুণ দ্রুত ইমেজিং ফ্লো

ZEISS Xradia XRM এর জন্য ZEISS DeepRecon প্রথম বাণিজ্যিক গভীর শিক্ষা পুনর্নির্মাণ প্রযুক্তি। এটি আপনাকে পুনরাবৃত্তি করা ওয়ার্কফ্লো অ্যাপ্লিকেশনগুলির জন্য নতুন XRM দূরবর্তী রেজোলিউশনের ত্যাগ ছাড়াই একটি পরিমাণের শ্রেণী (সর্বোচ্চ 10 DeepRecon অনন্যভাবে XRM দ্বারা তৈরি বড় তথ্য থেকে লুকানো সুযোগ সংগ্রহ করে এবং এআই দ্বারা চালিত উল্লেখযোগ্য গতি বা চিত্রের মা